エレクトロマイグレーション試験(EM)
エレクトロマイグレーション試験(EM)は、高温・通電条件下で金属配線や接合部に生じる原子移動を加速し、抵抗上昇、断線、短絡リスクを評価する信頼性試験です。
エレクトロマイグレーション試験(EM)を見るTest standard
JEDEC JESD61A.01は、半導体配線などのエレクトロマイグレーション耐性を評価するための試験規格です。高温・電流ストレス条件下で抵抗変化や故障時間を確認し、配線設計や材料選定の信頼性判断に役立ちます。
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エレクトロマイグレーション試験(EM)は、高温・通電条件下で金属配線や接合部に生じる原子移動を加速し、抵抗上昇、断線、短絡リスクを評価する信頼性試験です。
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