JIS K 5600-7-7
JIS K 5600-7-7は、UVランプで紫外線劣化を加速し、黄変・チョーキング・微細クラックの発生を比較して屋外耐久性を見極めることを規定しています。
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Test standard
一般信頼性
一般信頼性評価は、製品が日常的な使用環境で安定して機能し続けるかを確認するために重要です。高温、低温、湿度などの基本条件が品質判断の土台になります。
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ISO 16750-4
ISO 16750-4は、車載機器の温度・湿度などの気候的負荷を対象とし、極低温・高温・温湿度サイクルにおける機能維持と劣化挙動を評価することを規定しています。
ISO 16750-4を見るJEDEC JESD22-A118
JEDEC JESD22-A118は、リフローやはんだ槽の熱履歴に対する耐性を評価し、パッケージクラックやはんだ上がり、ボイドの発生を確認することを規定しています。
JEDEC JESD22-A118を見るJEDEC JESD22-A100
JEDEC JESD22-A100に準拠し半導体の定常温湿度ストレス下での故障発生傾向を評価して、耐湿設計の妥当性と量産信頼性を検証する試験です。運用面で有効。
JEDEC JESD22-A100を見るJEDEC JESD22-A104
JEDEC JESD22-A104は、高温と低温の繰返し温度変化でワイヤボンド・はんだ接合・樹脂の熱疲労を評価し、回数とΔTで加速条件を定めることを規定しています。
JEDEC JESD22-A104を見るJEITA ET-7407
JEITA ET-7407は、高温槽と低温槽間を急速移動させる二槽式試験などにより、熱応力に対するはんだ・樹脂・接合部の耐性を評価することを規定しています。
JEITA ET-7407を見るJEDEC JESD22-A119
JESD22-A119 は、半導体デバイスを一定の温度・湿度環境下でバイアス電圧を印加した状態で連続試験し、湿度に起因する劣化や故障の評価方法を規定しています。
JEDEC JESD22-A119を見るISO 19453-3
ISO 19453-3は、EV向け高電圧電子機器の機械的耐性を評価し、取付位置や用途別に振動・衝撃条件を定義し、耐久性と接続信頼性を検証することを規定しています。
ISO 19453-3を見るIEC 60068-2-43
二酸化硫黄（SO₂）ガス試験方法を定めた国際規格で、腐食性ガス環境下における材料・部品の耐食性を評価。電子機器の長期信頼性確認に有効です。
IEC 60068-2-43を見るMIL-STD-750
MIL-STD-750に準拠して半導体デバイスの電気的・環境的耐久試験を実施し、故障モードの把握と品質保証に必要な評価データを体系的に取得します。実務面で有効。
MIL-STD-750を見るETSI EN 300019-2-4
欧州通信機器向けの環境条件規格で、固定設置場所における機器の使用環境を定義。温度・湿度・振動などの条件を示し、製品設計や信頼性評価の基準として活用されます。
ETSI EN 300019-2-4を見るJEDEC JESD22-A102
JEDEC JESD22-A102は、高温保管による材料劣化・拡散・パッケージ応力の影響を評価し、保管寿命の見積りに活用することを規定しています。
JEDEC JESD22-A102を見るJEDEC JESD22-A110
JEDEC JESD22-A110は、高圧下の高温多湿環境で腐食やイオンマイグレーションを短時間に加速させ、耐湿信頼性を把握することを規定しています。
JEDEC JESD22-A110を見るJEITA ED-4701/200
JEITA ED-4701/200は、電子部品向け耐候性評価の指針を示し、屋外や窓際曝露における光劣化を比較可能にすることを規定しています。
JEITA ED-4701/200を見るISO 19453-4
ISO 19453-4は、高電圧機器の気候的負荷に対する耐性を対象とし、温度・湿度・結露下での機能・絶縁・安全性を長期的に評価することを規定しています。
ISO 19453-4を見るIEC 60068-2-42
硫化水素（H₂S）ガス試験方法を規定した国際規格で、硫黄系腐食環境に対する電子部品・接点材料の耐久性を評価。腐食劣化リスクの検証に活用されます。
IEC 60068-2-42を見るJEDEC JESD22-A103
JEDEC JESD22-A103の高温保存試験で材料劣化や特性変動を確認し、半導体パッケージの長期保管時における信頼性維持と寿命予測に活用します。導入に有効。
JEDEC JESD22-A103を見るIEC 60068-2-5
IEC 60068-2-5の太陽放射試験で日射による温度上昇や材料劣化の影響を評価し、屋外設置機器の耐候性設計と寿命見積りの妥当性を確認します。導入に有効です。
IEC 60068-2-5を見るJIS K 5600-7-5
JIS K 5600-7-5は、キセノンランプで屋外光を再現し、塗膜の退色・光沢・ひび割れなどの劣化を評価し、塗装仕様の比較に適用することを規定しています。
JIS K 5600-7-5を見るJEDEC JESD22-A108
JEDEC JESD22-A108は、高温通電下で長時間動作させ、初期故障や摩耗故障の発生を加速評価し、故障物理のモデル化に用いることを規定しています。
JEDEC JESD22-A108を見るJEDEC JESD22-A106
JEDEC JESD22-A106は、急激な温度切替により樹脂クラックやはんだ割れなど、熱ショック起因の不具合耐性を評価することを規定しています。
JEDEC JESD22-A106を見るJEDEC JESD22-A101
JEDEC JESD22-A101は、高温高湿下でバイアス有無の加速試験を行い、腐食・電解移動・絶縁劣化を評価し、活性化エネルギー推定に用いることを規定しています。
JEDEC JESD22-A101を見るJEITA ED-4701/100B
JEITA ED-4701/100Bは、電子部品の環境試験における一般条件を整理し、各試験の共通定義・前処理・判定基準を明確化することを規定しています。
JEITA ED-4701/100Bを見るISO 16750-3
ISO 16750-3は、車載電子機器が受ける機械的負荷を模擬し、耐久・共振・固定強度などを評価して車両搭載時の信頼性を確保することを規定しています。
ISO 16750-3を見るJEDEC JESD22-A105
JEDEC JESD22-A105は、デバイスに繰返し通電して自己発熱と冷却を与え、はんだ・ワイヤ・リードフレームの熱疲労を評価することを規定しています。
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