高温保存試験（HTS）
高温保存試験（HTS）は、製品や材料を高温の環境下に長時間保存し、経時劣化を意図的に加速させることで、寿命や性能劣化、耐熱性、長期信頼性を短時間で評価する試験です。
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Thermal
定常試験
定常試験は、一定の温度や湿度に長時間さらされたときの安定性を評価する試験です。保存時や連続使用時の劣化、性能変化を把握するために重要です。
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高温作動試験（HTO）
高温作動試験（HTO）は、製品や材料を高温の環境下にさらしながら連続的に電圧や電流を印加することで劣化を加速させ、不具合の発見や信頼性や耐久性を確認する試験です。
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低温保存試験（LTS）
低温保存試験（LTS）は、製品や材料を低温の環境下に長時間保存し、経時劣化を意図的に加速させることで、寿命や性能劣化、耐熱性、長期信頼性を短時間で評価する試験です。
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恒温恒湿保存試験（THS）
恒温恒湿保存試験（THS）は、試料を高温多湿の環境下で一定期間放置し、数年後に発生するであろう不具合を短時間で発見し、劣化や性能変化、長期耐久性を評価する試験です。
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恒温恒湿バイアス試験（THB）
恒温恒湿バイアス試験（THB）とは、試料を高温高湿環境下に置き、さらに電圧を印加して通電させることで、金属の腐食や絶縁性能低下などの劣化を短時間で再現する試験です。
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プレッシャークッカー試験（PCT）
プレッシャークッカー試験（PCT）は、飽和水蒸気の高温高圧環境で樹脂封止部や基板内部への吸湿を強制的に進め、膨れ、クラック、腐食、絶縁劣化などの耐湿性を短時間で確認する保存系の加速試験です。
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高加速寿命試験（HAST）
高加速寿命試験（HAST）は、高温高湿環境で電圧バイアスを印加しながら電子部品や実装基板を評価し、リーク電流、絶縁低下、金属移動、機能劣化など動作時の信頼性リスクを短時間で確認する加速試験です。
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